產(chǎn)品展示 > 變壓器試驗(yàn)類儀器 > 局部放電測(cè)試儀 > 局放測(cè)試裝置

產(chǎn)品名稱:局放測(cè)試裝置

產(chǎn)品型號(hào):LYTCD-9808

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

產(chǎn)品特點(diǎn):LYTCD-9808局放測(cè)試裝置可采用蛇皮管等。試驗(yàn)回路所圍的面積盡可能小,以降低干擾的引入。電壓等級(jí)高的高壓端應(yīng)加防電暈帽。試驗(yàn)區(qū)各種金屬物體應(yīng)牢固接地,不能懸浮,檢查并改善試驗(yàn)區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位(如不能有尖、銳角),特別注意各種地線是否良好接地。

LYTCD-9808局放測(cè)試裝置的詳細(xì)資料:

一、LYTCD-9808局放測(cè)試裝置安全提示

1、系統(tǒng)的操作、維護(hù)應(yīng)由能勝任的相關(guān)專業(yè)人員進(jìn)行。

2、現(xiàn)場(chǎng)電壓高達(dá)幾萬(wàn)伏,試驗(yàn)人員應(yīng)嚴(yán)格遵守所有安全預(yù)防措施。試驗(yàn)區(qū)域應(yīng)有明顯、清晰的警示牌,現(xiàn)場(chǎng)任何人都應(yīng)該知道高壓區(qū)域。直接從事的測(cè)量人員應(yīng)了解測(cè)量回路中所有帶電元件、高壓元件,不直接從事測(cè)量的人員應(yīng)被隔離在試驗(yàn)區(qū)域之外。在試驗(yàn)過(guò)程中及上電后,任何人不得進(jìn)入高壓區(qū)。

3、在試驗(yàn)以前,操作人員應(yīng)掌握測(cè)試線路、測(cè)試方法、測(cè)試步驟和測(cè)試目的。

4LYTCD-9808局放測(cè)試裝置試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)要整潔、干凈,不應(yīng)存放其他無(wú)關(guān)的物品。在高壓區(qū)間的地面上不應(yīng)有雜亂的金屬小塊(如裸銅線段、螺絲、螺帽和其它小金屬塊等),被試品、升壓變壓器、耦合電容等應(yīng)與周圍保持適當(dāng)距離。

5、被試品、升壓變壓器、耦合電容等表面應(yīng)保持干燥清潔,因?yàn)楸砻娴臐駳夂臀酃笗?huì)引起表面的局部放電,導(dǎo)致測(cè)量異常。

6、高壓導(dǎo)線應(yīng)盡可能短而粗,以防止電暈,可采用蛇皮管等。試驗(yàn)回路所圍的面積盡可能小,以降低干擾的引入。電壓等級(jí)高的高壓端應(yīng)加防電暈帽。試驗(yàn)區(qū)各種金屬物體應(yīng)牢固接地,不能懸浮,檢查并改善試驗(yàn)區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位(如不能有尖、銳角),特別注意各種地線是否良好接地。

7、LYTCD-9808在試驗(yàn)開(kāi)始加壓前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯(cuò)。特別應(yīng)關(guān)注接地線、高壓線和強(qiáng)電回路的連線是否牢固連接。

8、試驗(yàn)異常時(shí),應(yīng)首先切斷電源,再作進(jìn)一步處理。

二、LYTCD-9808局部放電測(cè)試系統(tǒng)

1、LYTCD-9808系統(tǒng)概述

是按照DL/T846.4-2004 《高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件》、GB/T 7354-2003 《局部放電測(cè)量》開(kāi)發(fā)的,應(yīng)用于電力系統(tǒng)設(shè)備運(yùn)行維護(hù)的局部放電測(cè)試,儀器結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便,抗干擾能力強(qiáng)。適用于各種電壓等級(jí)和容量的變壓器、發(fā)電機(jī)、互感器、套管、GIS、電容器、CVT、電力電纜、開(kāi)關(guān)等高壓電氣設(shè)備的局部放電檢測(cè)。

系統(tǒng)主要由主機(jī)、輸入阻抗單元、校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器、耦合電容分壓器(外零標(biāo)輸入)、PC機(jī)(分體機(jī))以及連接電纜等組成。

2、LYTCD-9808主機(jī)

1)面板結(jié)構(gòu)

       

一體機(jī)前面板結(jié)構(gòu)圖

一體機(jī)后面板結(jié)構(gòu)圖

                         

分體機(jī)面板

2)主機(jī)硬件框圖

采用脈沖電流法。硬件框圖如下:

由上圖可知被測(cè)信號(hào)有兩個(gè):一個(gè)是來(lái)自輸入耦合單元的放電脈沖信號(hào),另一個(gè)是來(lái)自試驗(yàn)電源經(jīng)分壓后的試驗(yàn)電壓信號(hào)

 

 

 

 

 

 

 

主機(jī)硬件框圖

每個(gè)通道的輸入信號(hào)獨(dú)立的經(jīng)過(guò)前級(jí)低通濾除部分低頻信號(hào),再經(jīng)過(guò)衰減或放大處理,然后經(jīng)過(guò)細(xì)調(diào)增益控制,經(jīng)過(guò)更精密一級(jí)的高低通濾波,進(jìn)一步篩選出放電信號(hào),經(jīng)過(guò)高速寬頻帶12AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)FPGA存儲(chǔ)在緩存SDRAM中,再由FPGA通過(guò)USB(或以太網(wǎng))上傳給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。

試驗(yàn)電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)電壓互感器隔離變換成小信號(hào),小信號(hào)分兩路:一路經(jīng)過(guò)調(diào)理得到試驗(yàn)電壓的外零標(biāo)信號(hào),另一路經(jīng)過(guò)有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗(yàn)電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機(jī)或工控主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行顯示。

3、輸入阻抗單元

LYTCD-9808的放電脈沖檢測(cè)阻抗,又稱耦合裝置或輸入單元,包括耦合電容和輸入單元,是測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試回路的主要組成部分,輸入單元針對(duì)特定的試驗(yàn)回路或試品,為達(dá)到佳的靈敏度而專門(mén)設(shè)計(jì)的。本系統(tǒng)配備了十三種獨(dú)立的輸入單元,其中第十三種為單元。面板示意如下圖:

系統(tǒng)配備的輸入單元是RLC型檢測(cè)阻抗,是一種調(diào)諧型阻抗。檢測(cè)阻抗的檢測(cè)回路及等效電路,如圖所示:

b是圖a的等值電路,它是一電感、電容并聯(lián)電路,當(dāng)電路諧振時(shí),在CtLm兩端產(chǎn)生較高的諧振電壓。當(dāng)測(cè)量回路一經(jīng)確定,測(cè)量回路的諧振電容便可求得。而且,測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量中心頻率f0也是已知的。因此只要恰當(dāng)選擇測(cè)量阻抗電感值Lm。使時(shí),便可達(dá)到足夠高的測(cè)量靈敏度。

系統(tǒng)備有12個(gè)獨(dú)立檢測(cè)阻抗,足以滿足選擇之要求。

輸入單元序號(hào)

調(diào)諧電容范圍

允許電流有效值

不平衡電路

平衡電路

1

625100微微法

30mA

0.25 A

2

25100400微微法

60mA

0.5A

3

1004001500微微法

120mA

1A

4

40015006000微微法

0.25A

2A

5

1500600025000微微法

0.5A

4A

6

0.0060.0250.1微法

1A

8A

7

0.0250.10.4微法

2A

15A

8

0.10.41.5微法

4A

30A

9

0.41.56.0微法

8A

60A

10

1.56.025微法

15A

120A

11

6.02560微法

25A

200A

12

2560250微法

50A

300A

7R

電阻

2A

15A

只要選取檢測(cè)阻抗的調(diào)諧電容Ct的中心值等于測(cè)量回路的諧振電量Ct,可使測(cè)量回路的靈敏度足夠高。一般使Ct值落入Ct的范圍就可以了。

根據(jù)試品的容量Cx,耦合電容的大小Ck,選取適合序號(hào)的輸入單元。表中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級(jí)繞組并聯(lián)的電容(粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算)。例如:試品容量為500pF,耦合電容量為1000pF,則所需檢測(cè)阻抗為 500×1000/(500+1000)=333.33,查表可取3號(hào)單元。

輸入單元應(yīng)盡量靠近試品,輸入單元經(jīng)測(cè)量電纜與放大器輸入插座相連。

本測(cè)試系統(tǒng)采用的是脈沖電流法進(jìn)行局部放電測(cè)量,該方法的基本測(cè)試回路通常有三種:并聯(lián)測(cè)試回路、串聯(lián)測(cè)試回路和平衡回路(橋式回路)。

注:Cx:代表試品電容。

Zm:代表檢測(cè)阻抗。

Ck:代表耦合電容,它的作用是為CxZm之間提供一個(gè)低阻抗通道。

Z:代表接在電源和測(cè)量回路間的低通濾波器,Z可以讓工頻電壓作用到試品上,但阻止被測(cè)的高頻脈沖或電源中的高頻分量通過(guò)。

a為并聯(lián)回路,多用于試品電容Cx較大,試驗(yàn)電壓下,試品工頻電容電流超出檢測(cè)阻抗Zm允許值,或試品有可能被擊穿,或試品無(wú)法與地分開(kāi)的情況。該測(cè)量回路應(yīng)用較多。

b為串聯(lián)回路,多用于試品電容Cx較小,試驗(yàn)電壓下,試品工頻電容電流符合檢測(cè)阻抗Zm允許值時(shí),耦合電容Ck兼有濾波(抑制外部干擾)和提高測(cè)量靈敏度的作用,其效果隨Cx/Ck的增大而提高。Ck也可以用高壓引線的雜散電容Cs來(lái)代替。這樣,可使線路更為簡(jiǎn)單,從而減少過(guò)多的高壓引線和聯(lián)結(jié)頭,避免電暈干擾,該方法多用于220kV及以上的產(chǎn)品試驗(yàn)。試品的低壓端必須與地絕緣。

c為平衡測(cè)試回路,利用電橋平衡原理將外來(lái)干擾信號(hào)平衡掉,因而這種回路的抗干擾能力較強(qiáng)。但是,由于平衡測(cè)試回路,利用電橋的平衡條件和頻率有關(guān),因此有當(dāng)CxCk的電容量比較接近時(shí),才有可能同時(shí)*平衡掉各種外來(lái)干擾。平衡測(cè)試回路的靈敏度一般低于直接測(cè)試回路。

4、校準(zhǔn)脈沖發(fā)生器(詳見(jiàn)附錄1

5、耦合電容分壓器

零標(biāo)輸入單元作為局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的相位基準(zhǔn),對(duì)識(shí)別局部放電和干擾有重要作用,本儀器系統(tǒng)內(nèi)置內(nèi)零標(biāo)單元和外零標(biāo)輸入單元。外零標(biāo)輸入時(shí),系統(tǒng)的相位可以和外零標(biāo)輸入嚴(yán)格同步,且無(wú)頻率間隔要求,故可以和無(wú)局放串聯(lián)諧振電源相配合,外零標(biāo)的輸入范圍為:交流10380V,30Hz300Hz。

在實(shí)際試驗(yàn)中,可以將試驗(yàn)電源電壓經(jīng)分壓器降至10380V再接入零標(biāo)單元。如果在屏幕上輸入分壓器的變比,可以直接測(cè)量出試驗(yàn)電源電壓。例如,電容分壓器變比是5001,則選擇變比為500

如果試驗(yàn)電源和儀器電源同相或試驗(yàn)電源和工頻嚴(yán)格同步,可使用儀器內(nèi)零標(biāo)。

一般,當(dāng)沒(méi)有外零標(biāo)輸入信號(hào)時(shí),儀器自動(dòng)選擇內(nèi)零標(biāo)作為本系統(tǒng)的相位基準(zhǔn)。如果試驗(yàn)電源和儀器電源相位不同,必須對(duì)其相位進(jìn)行校正后才可測(cè)量。 

如圖是耦合電容分壓器,既可以當(dāng)耦合電容使用,又可以當(dāng)電容分壓器使用;試驗(yàn)時(shí),分別接到輸入單元和主機(jī)的分壓器輸入(即外零標(biāo)輸入),就可以同時(shí)測(cè)量試品的局部放電和試驗(yàn)電壓。

 

 

 

耦合電容分壓器示意圖

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